分析测试中心的X射线吸收精细结构谱仪已于2024年4月22日安装调试完毕，测试指标符合使用要求，后续将发布共享开放内容。

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X射线吸收精细结构谱仪

设备简介

X射线吸收精细结构谱仪用于样品的X射线吸收精细结构（X-Ray Absorption Fine Structure, XAFS）光谱测试。X射线吸收精细结构光谱（XAFS）是指在原子芯电子吸收X射线的特征边附近的高分辨谱，主要用于分析功能材料的核心原子的价态、能级结构、配位键类型与键长、配位原子种类及数量等。XES本质上是超高能量分辨率的X射线荧光光谱(high-resolution XRF)，可实现氧化态和配位环境表征。

安装地点：沙河校区四号楼105

适用范围

催化化工研究：多相催化、纳米颗粒催化剂、单原子催化剂等。通过XAFS获得催化剂在载体上存在的形态，与载体的相互作用形式及在催化过程中的变化等，以及含量极低的金属离子的近邻结构。

放射核素研究：用于放射性核素相互作用、形态分析、吸附机理的研究，放射性核素对矿物、腐殖质、植物组织和微生物等界面反应和耐毒机理研究，以及放射性核素污染修复研究。

生物医疗：金属蛋白质的研究，仿生材料及机理研究，代谢、癌症、药物毒理研究，以及金属在生命体中动态迁移过程研究等非常有意义；

环境科学：有毒元素等在地矿、动植物体中的化学配合及存在形式研究；

材料科学：用于各种材料表征，复杂体系、无序结构及特种材料的研究，表面、界面材料的相关性质研究，材料的动态变化过程研究，能源材料、文物分析研究等。

参数

1. 光源：1200W X射线光源；

2. 大口径球面弯晶：直径100 mm，曲面半径500 mm；

3. 高精度罗兰圆式能谱扫描系统，可覆盖布拉格角范围：85°- 55°；

4. 能量测量范围：4.5 ~ 20 keV；

5. 单次扫描范围：>600 eV (7~9 keV）；

6. 能量分辨率：近边0.5 ~ 1.5 eV (7~9 keV)；

7. 重复性：<50 meV；

8. 光通量：500,000~1,000,000 photons/s (7~9 keV)。

制样要求

1. 粉末样品需要计算合适样品量，以Δu=1为最佳；

2. 样品研磨至400目以上，保证样品均匀，避免漏光；

3. 使用压片机制样；

4. 低含量样品（1%-5%）设计需要负载于C、N等低Z元素的衬底上，减少背景吸收；

5. 片状纯样品厚度控制在10μm左右，面积大于5 mm×10 mm，没有孔隙；

6. 液体样品自制塑封袋密封或者自制液体样品容器，防止气泡干扰，根据跳高调节厚度；

7. 薄膜样品需要计算好样品厚度，注意避免漏光；

8. 设计样品时注意排除其他元素吸收边干扰。

收费标准

所属平台

物理性能表征检测中心主要研究材料的基本性质，包括材料的原子结构、化学价态、微观结构、电学性能、磁学性能和热学性能。检测中心拥有高通量X射线衍射仪、桌面式X射线吸收精细结构谱仪、无损亚微米X射线分析仪、绝热综合测试系统、激光杨氏模量测系统、极低温电效应通用系统、色谱-红外联用广谱条件气液原位检测系统、微纳米粒子PVDF薄膜速度计量仪、超高真空等离子体晶体测试设备等仪器。检测中心的高通量XRD不仅可以实现多样品连续自动测量，更可以实现定性定量分析、薄膜略入射GID分析、薄膜反射率XRR分析，同时还可以进行点光源对材料的织构、应力、微区进行测量；X射线吸收精细结构光谱（XAFS）可以获得材料的核心原子的价态、能级结构、配位键类型与键长、配位原子种类及数量；无损亚微米X射线衍射分析仪可实现在无损情况下对大样品高分辨率成像、内部断层成像、相位衬度成像、4D和高分辨原位成像、绝热综合测试系统可实现±14 T磁场下，2-325 K温度区间内的磁学测量、电学测量、热膨胀测量。检测中心提供专业的分析测试、实验教学、技术指导等多样化服务，同时面向社会开放，致力于服务涵盖物理、化学、材料、力学、机械、生物、医药、矿物、电子等学科。