分析测试中心的钨灯丝扫描电子显微镜已于2024年3月22日安装调试完毕，测试指标符合使用要求，后续将发布共享开放内容。

具体可登录分析测试中心网站（https://fxcs.buaa.edu.cn/）、大型仪器共享管理平台（https://igx.buaa.edu.cn/）或官方微信公众号（北京航空航天大学分析测试中心）了解仪器设备的性能指标、预约测试的服务指南等相关信息。技术咨询请联系：010-61715050。

设备简介

钨灯丝扫描电子显微镜可实现二次电子成像和背散射电子成像，主要用于对样品表面的微观结构进行高分辨的成像和表征，配合能谱仪还能够对样品表面的元素进行定性和定量分析。具有自动化程度高、操控界面人性化的特点。配有低真空模式，可以实现不导电样品的直接观察。适用于材料、物理、化学、生物、地质、机械、电子等样品。

安装地点：沙河校区四号楼B311

适用范围：

1. 二次电子成像

2. 背散射电子成像

3. EDS点扫描、线扫描、面扫描

参数：

1. 加速电压：0.3-30 kV

2. 束流：1 pA – 1 μA

3. 二次电子成像分辨率：3.0 nm@30 kV，15 nm @1 kV；背散射电子成像分辨率：4.0 nm@30 kV

4. 低真空：10-650 Pa

5. 配备大尺寸、超级对中样品台，可装直径200 mm样品，样品台承重2 kg

6. 样品移动范围

X：125 mm；Y：100 mm；T：-10° - +90°；R：360°；WD：5-80 mm

制样要求：

1. 样品横向尺寸不超过50 mm×50 mm，高度不超过20 mm;

2. 粉体样品需牢固地粘在导电胶上，进样前需用高纯氮气或吸耳球吹。

3. 样品需干净、干燥、无强磁性、成分稳定；

4. 检测块体和薄膜样品时，请注明测试面。

收费标准

所属平台

电镜检测中心聚焦国家重大需求的新材料研发，服务于学校“双一流”建设，以形貌、微结构、元素、化学成分、外场作用下的动态物理学过程的分析为基础，致力于建立材料结构与性能的关联，探索改善材料性能的新途径。检测中心现有2台高分辨透射电镜、6台扫描电镜、1台聚焦离子束电镜、4 套 TEM 原位样品杆以及全套电镜制样设备。分室面向校内外师生及研究人员提供检测分析、实验教学、技术指导等服务，研究涉及材料、物理、化学、生物、机械、生物、电子等多学科领域。检测中心可以完成的研究项目包括：(1) 利用先进的高分辨透射电镜技术，在亚原子尺度对材料的结构和化学成分展开分析；(2) 通过特殊的原位样品杆技术耦合热、气、电等外场，在原子尺度下实时观测材料的结构演变。检测中心将以微纳尺度分析为核心，打造样品制备、表征测试、结果分析全流程的服务体系，同时联合力学、化学等分室，实现跨尺度的材料结构、成分、性能检测分析，为学校多学院的科研和教学工作提供有力保障和支持，同时面向校外研究人员，创建开放共享的测试平台。