设备简介：X射线吸收精细结构谱仪用于样品的X射线吸收精细结构（X-Ray Absorption Fine Structure, XAFS）光谱测试。X射线吸收精细结构光谱（XAFS）是指在原子芯电子吸收X射线的特征边附近的高分辨谱，主要用于分析功能材料的核心原子的价态、能级结构、配位键类型与键长、配位原子种类及数量等。XES本质上是超高能量分辨率的X射线荧光光谱(high-resolution XRF)，可实现氧化态和配位环境表征。

参数：

光源：1200W X射线光源

大口径球面弯晶：直径100mm，曲面半径500mm；

高精度罗兰圆式能谱扫描系统，可覆盖布拉格角范围：85°~ 55°

能量测量范围：4.5 ~ 20keV

单次扫描范围：>600eV (7~9keV）

能量分辨率：近边0.5 ~ 1.5eV (7~9keV)

重复性：<50meV

光通量：500,000~1,000,000 photons/s (7~9keV)

功能：

1. 实验室内实现同步辐射级XAFS测试，支持吸收谱快扫功能；

2. 吸收谱实时显示，支持远程操作进行实验；

3. 多组样品自动切换，可实现无人值守；

4. 多种测量模式可选，包括透射模式测量，荧光模式及XES模式；

5. 支持原位XAFS测试。