近日，由分析测试中心作为联合起草单位起草的《粉末材料形貌及成分分布表征飞行时间二次离子质谱法》（标准号：T/CSTM 01686—2025） 团体标准正式发布。其中，物理性能表征平台技术负责人熊小路老师全面参与了标准的起草、验证、修订等工作。

该标准自2024年4月提交立项，经中国材料与试验标准化委员会‌（简称CSTM）立项答辩、征求意见、审查、报批、审评等环节，于2025年11月26日正式发布。

该标准旨在规范飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）对粉末材料的形貌及成分分布表征，可以为粉末材料的应用及优化提供科学依据。飞行时间二次离子质谱是一种先进的表面分析技术，在捕捉样品表面元素、同位素、官能团等质谱信息的同时，还能够以优异的空间分辨能力获得二次离子图像，对粉末材料的形状、粒度、表面缺陷、化学组成及成分分布等具有独特的表征能力，有助于揭示各类粉末材料合成、制备、改性、性能、应用等与形貌及成分分布的关系。

中心将以此次申报为契机，聚焦未来产业和新兴领域的技术需求，持续深度整合行业资源，推进产学研用协同联动，为促进分析测试领域的标准化建设贡献力量。